网络股票配资 胜达克半导体（上海）取得SOC芯片并行测试切换方法专利，通过时钟域切换电路切换到模拟时钟域，可以让两个端口在不同频率下同时启动逻辑测试
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金融界2024年9月8日消息，天眼查知识产权信息显示，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司取得一项名为“一种应用于自动测试机的 SOC 芯片并行测试切换方法“，授权公告号 CN112924850B，申请日期为 2021 年 1 月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于自动测试机 SOC 芯片并行测试切换方法。具体流程如下：S1：在测试载具板上的数据接口及 MCU 端连接一组数字测试通道 A，在测试载具板上的以太网接口端连接一组数字测试通道 B，数字测试通道 B 上连接时钟域切换电路；S2：设置系统时钟周期为 250MHz；设置模拟时钟周期为 240 MHz；S3：测试时，利用数字测试通道组 A 对被测 SOC 芯片完成微处理器 MCU 的功能测试；利用数字测试通道组 B 对被测 SOC 芯片完成以太网内核的功能测试；S4：测试完成后，判断是否通过，是则被测 SOC 芯片认定合格；否则被测 SOC 芯片认定不合格。同现有技术相比，通过时钟域切换电路切换到模拟时钟域，可以让两个端口在不同频率下同时启动逻辑测试。
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载具板钟域通道组芯片测试机发布于：北京市